Продукция

SENTERRA II

SENTERRA II определяет новый уровень спектроскопической производительности и удобства обслуживания компактных комбинационных микроскопов.

Микроскоп SENTERRA II предназначен для обеспечения превосходной чувствительности в сочетании с высоким спектральным разрешением и ультрасовременным формированием изображения. Поэтому SENTERRA II является мощной платформой для передовых научно-исследовательских работ. Благодаря высокой степени автоматизации, компактным размерам и эффективного потока работ SENTERRA II также представляет собой идеальный инструмент для решения задач реального мира в лаборатории контроля качества.

Беспрецедентная постоянная стабильность волновых чисел гарантирует точные и воспроизводимые результаты в каждый момент времени. SENTERRA II является комбинационным микроскопом как для ежедневных исследований, так и для лабораторий, работающих в научных исследованиях.

Основные преимущества SENTERRA II:

  •  Спектроскопическое исполнение исследовательского класса
  •  Интуитивно понятный и удобный рабочий процесс достигается при помощи руководства для програмного обеспечения и автоматизированого оборудования
  •  Непревзойденная воспроизводимость волнового числа и точность
  •  Непосредственная визуализация комбинационного рассеяния
  •  Компактный дизайн с спектрометром, который включен в микроскоп
  •  Полный спектральный диапазон со всеми решетками
  •  Мульти лазерное возбуждение с быстрыми функциями
  • Комбинация с технологией Фурье-Рамана для минимизации флуоресценции
  • Полностью автоматизированный инструмент дл испытаний USP 1120, PhEur  2.2.48, ASTM E1840 и E2529-06
  • Полное соответствие GMP/cGMP, GLP и 21 CFRp11
  • Специальная версия для исследования больших образцов (например в искусстве) с высоким пространственным разрешением

Применение

SENTERRA II позволяет измерять рамановские изображения и сочетать полученную пространственно-разрешенную молекулярную информацию с высоким качеством микроскопических изображений образца. Анализ проводится бесконтактно и без необходимости подготовки проб. Химическое изображение поверхности образца может быть достигнуто с очень высоким пространственным разрешением до размера частиц менее микрона. Кроме того, профилирование по глубине оптически прозрачных образцов позволяет неразрушающее исследование образца в третьем измерении. Будучи пригодными для использования, обнаружения и идентификации органических и неорганических материалов SENTERRA II имеет широкий спектр приложений.

Фармацевтика

  • Диференциация полиморфов
  • Визуализация распределения АФИ и вспомогательных веществ в таблетках
  • Анализ включений: идентификация частиц и включений

 

 

Полимеры

  •  Определение чистых полимеров и смесей
  •  Анализ многослойных систем
  •  Определение характеристик полимеров: кристалличность, плотность, конформация
  •  Определение содержания мономера, наполнителя, добавки
  •  Анализ включений: идентификация примесей и включений

 

Покрытия

  •  Изучение состава и однородности

 

 

 

 

Материаловедение

  •  Дифференциация аморфного и микрокристаллического кремния
  • Определение характеристик новых материалов 2Dи углеродных нанотрубок

 

 

 

Криминалистика

  • Идентификация улик с мест преступлений: таких как волокна, частицы, краски и т.д.
  •  Подтверждение подлинности произведений искусства
  •  Анализ поддельных документов, фармацевтических препаратов и средств
  •  Анализ наркотиков
  •  Обнаружение и идентификация взрывчатых веществ

 

Искусство и культурное наследие

  •  Идентификация материалов, используемых для предметов искусства
  •  Распознавание подлинных и поддельных артефактов
  •  Изучение сохранения, деградации и старения объектов искусства

 

 

Наука

  •  Изучение молекулярного состава клеток и тканей