• ул. Автозаводская 24/2, оф.350
  • Пн - Пт: 9:00 - 18:00
  • 067 446-90-48
Для дополнительной консультации
+38 067 446-90-48

ИК-Фурье микроскоп LUMOS II обеспечивает превосходное визуальное и спектральное качество данных, в дополнение к полностью автоматизированным измерениям во всех режимах – НПВО, пропускания и отражения. LUMOS II является оптимальным решением для инфракрасной микроскопии как для начинающих пользователей, так и для экспертов.

Уникальная технология детекторов Focal Plane Array (FPA) от Bruker позволяет пользователям получать детальные изображения c высокой скоростью и разрешением. Это вместе с MCT детектором, не требующем охлаждения жидким азотом, позволяет пользователям полностью использовать огромные возможности ИК-Фурье микроскопии.

LUMOS II – высокоавтоматизированная система, поскольку все движущиеся детали, включая кристалл НПВО, моторизированы и компьютеризированы. Это позволяет проводить измерения в режиме НПВО полностью автоматически.

Интуитивно понятное программное обеспечение OPUS пошагово направляет действия пользователя в процессе работы. Результаты измерения (изображение образца, спектральные данные, информация об образце и эксперименте) содержатся в одном файле. Анализ и визуализация полученных данных также производится в программе OPUS.
Несмотря на то, что LUMOS II разработан для проведения ежедневного анализа, высокая чувствительность микроскопа позволяет использовать его для решения сложных исследовательских задач.

Особенности:
• Полностью автоматизированный ИК-Фурье микроскоп
• Химическая визуализация с высокой скоростью по технологии FPA
• Более 1000 пространственно разрешенных ИК спектров за одно сканирование
• Отличное пространственное разрешение и высококачественные спектральные данные
• Соответствует GMP, всем основным фармакопеям и 21 CFR часть 11
• TE-MCT не требует охлаждения жидким азотом для измерений ≥ 10 мкм
• До трех позиций детектора (например, TE-MCT + LN-MCT + FPA)
• Можно анализировать образцы высотой до 40 мм.
• Автоматизированные измерения пропускания, отражения и НПВО
• Оценка и измерение поддерживаются программно
• Встроенный пьезо-контролируемый кристалл ATR
Микроскоп может автоматически переключаться между режимами НПВО и визуального анализа благодаря инновационному моторизованному кристаллу НПВО. Кроме того, измерения спектра фона, в том числе в режиме НПВО, полностью автоматизированы.
• Моторизованный германиевый кристалл НПВО Ge со встроенным датчиком давления
• Моторизованная прозрачная ножевая апертура
• Моторизованный конденсор
• Моторизованный поляризатор/анализатор видимой области (опция)
• Моторизованный предметный столик (опционально)
• Моторизованный привод перемещения по оси Z
• Моторизованный переход между ИК- и видимой областями
• Моторизованное изменение числовой апертуры в ИК- и видимой областях
• Электронное распознавание предметных столиков

Оптические компоненты высочайшего качества
LUMOS II оснащен объективом с 8-кратным увеличением, который используется при измерении на отражение, пропускание и НПВО. Оптические компоненты LUMOS II специально подобраны к этому объективу так, чтобы избежать искажения изображения. Для получения максимальной глубины резкости при визуальном исследовании и сохранения высокой чувствительности при ИК-анализе, числовая апертура автоматически меняется при переключении между режимами анализа и наблюдения.
• 8-кратное увеличение для автоматического измерения на пропускание, отражение и НПВО
• Цифровое 32-кратное увеличение
• Большое поле зрения и высокая числовая апертура
• Подсветка: независимые белые светодиоды для измерений на отражение и пропускание
• Апертура Келлера для усиления контрастности изображения в видимой области
• Изображения фиксируются цифровой CCD-камерой

Продуманная конструкция
LUMOS II занимает значительно меньше места, чем обычные ИК-Фурье микроскопы. При этом расстояние между объективом и предметным столиком достаточно велико и позволяет беспрепятственно размещать образцы толщиной до 40 мм.

ИК-Фурье технология
Интерферометр – “сердце” ИК-Фурье спектрометра. В LUMOS II используется не требующий настройки интерферометр RockSolid, который устойчив к вибрациям, колебаниям температуры и отклонению зеркал.

• Высокая стабильность работы за счет использования интерферометра с уголковыми отражателями, который не требует настройки
• Золочение отражателей повышает эффективность
• Все детали оптической системы, прозрачные в ИК-области, изготовлены из селенида цинка, который устойчив к механическим воздействиям и влажности
• Источник ИК-излучения с длительным сроком службы (более 5 лет)
• Твердотельный лазер с длительным сроком службы (более 10 лет)
• Высокочувствительный MCT-детектор, DTGS-детектор поставляется дополнительно

Измерение макрообъектов
Несмотря на то, что LUMOS II представляет собой ИК-Фурье микроскоп, его можно использовать и для исследования больших образцов. Для этого необходимо подключить блок MACRO UNIT, который позволяет задействовать все модули QuickSnapTM ИК-Фурье спектрометра ALPHA II. Таким образом, Вы можете исследовать любые образцы: твердые, жидкие или газообразные.

Применение
LUMOS II одинаково хорошо работает в режиме визуализации и ИК-анализа, что открывает широкие возможности для его применения.
Практически во всех отраслях промышленности существует необходимость идентификации мелких частиц или загрязнений на поверхности.

Другие применения ИК-микроскопа Люмос 2:

  • Анализ дефектов в полимерах и пластиках
  • Определение включений и загрязнений
  • Анализ упаковочных материалов
  • Проверка негомогенности холодных припечаток и покрытий
  • Анализ частиц на любой поверхности, фильтре или матрице
  • Анализ дефектов электронных устройств
  • Анализ частиц и примесей на поверхности
  • Дефекты на покрытиях и изоляционных слоях
  • Анализ дефектов в фармацевтических продуктах
  • Идентификация частиц
  • Определение включений
  • Гомогенность таблеток
  • Анализ дефектных автомобильных частей
  • Идентификация загрязнений
  • Дефекты в пластиковых деталях
  • Анализ резиновых материалов
  • Анализ поверхности металлов
  • Анализ дефектов в бумажной индустрии
  • Идентификация загрязнений
  • Идентификация и распределение наполнителей
CALL ME
+
Call me!