• вул. Автозаводська 24/2, оф.350
  • Пн - Пт: 9:00 - 18:00
  • 067 446-90-48
Для додаткової консультації
+38 067 446-90-48

ІЧ-Фур’є мікроскоп LUMOS II забезпечує чудову візуальну та спектральну якість даних, на додаток до повністю автоматизованих вимірювань у всіх режимах – ППВВ, пропускання та відбивання. LUMOS II є оптимальним рішенням для інфрачервоної мікроскопії як для користувачів-початківців, так і для експертів.

Унікальна технологія детекторів Focal Plane Array (FPA) від Bruker дозволяє користувачам швидко отримувати детальні зображення з високою роздільною здатністю. Це разом з MCT детектором, який не вимагає охолодження рідким азотом, дозволяє користувачам повністю використовувати всі можливості ІЧ-Фур’є мікроскопії.

LUMOS II – високоавтоматизована система, оскільки всі рухомі деталі, включно з кристалом ППВВ, моторизовані та комп’ютеризовані. Це дозволяє проводити вимірювання у режимі ППВВ повністю автоматично.

Інтуїтивно зрозуміле програмне забезпечення OPUS крок за кроком спрямовує дії користувача в процесі роботи. Результати вимірювання (зображення зразку, спектральні дані, інформація про зразок та експеримент) містяться в одному файлі. Аналіз та візуалізація отриманих даних також проводиться у програмі OPUS.
Незважаючи на те, що LUMOS II розроблений для щоденного аналізу, висока чутливість мікроскопа дозволяє використовувати його для вирішення складних дослідницьких завдань.

Особливості:
• Повністю автоматизований ІЧ-Фур’є мікроскоп;
• Швидка хімічна візуалізація за технологією FPA;
• Понад 1000 просторово дозволених ІЧ-спектрів за одне сканування;
• Відмінна просторова роздільна здатність та високоякісні спектральні дані;
• Відповіда є GMP, усім основним фармакопеям та 1CFR -MCT не потребує охолодження рідким азотом для вимірювання ≥ 10 мкм;
• До трьох позицій детектора (наприклад, TE-MCT + LN-MCT + FPA);
• Можливість аналізу зразків товщиною до 40 мм;
• Автоматизовані вимірювання пропускання, відбивання та ППВВ;
• Вбудований п’єзо-контрольований кристал ATR;
• Мікроскоп може автоматично перемикатися між режимами ППВВ та візуального аналізу завдяки інноваційному моторизованому кристалу ППВВ. Крім того, вимірювання спектру фону, у тому числі в режимі ППВВ, повністю автоматизовані;
• Моторизований германієвий кристал ППВВ Ge з вбудованим датчиком тиску;
• Моторизована прозора ножова апертура;
• Моторизований конденсор;
• Моторизований поляризатор/аналізатор видимої області (опція);
• Моторизований предметний столик (додатково);
• Моторизований привід переміщення по осі Z;
• Моторизований перехід між ІЧ- та видимою областями;
• Моторизована зміна числової апертури в ІЧ- та видимій областях;
• Електронне розпізнавання предметних столиків.

Оптичні компоненти найвищої якості
LUMOS II оснащений об’єктивом з 8-кратним збільшенням, що використовується під час вимірювання на відбиття, пропускання та ППВВ. Оптичні компоненти LUMOS II спеціально підібрані до цього об’єктиву так, щоб уникнути спотворення зображення. Для отримання максимальної глибини різкості під час візуального дослідження, та збереження високої чутливості, проводячи ІЧ-аналіз, числова апертура автоматично змінюється при перемиканні між режимами аналізу та спостереження.
• 8-кратне збільшення для автоматичного вимірювання на відбиття та ППВВ;
• Цифрове 32-кратне збільшення;
• Велике оглядове поле та висока числова апертура;
• Підсвічування: незалежні білі світлодіоди для вимірювань на відбивання та пропускання;
• Апертура Келлера для посилення контрастності зображення у видимій області;
• Зображення фіксуються цифровою CCD-камерою;

Продумана конструкція
LUMOS II займає значно менше місця, ніж звичайні ІЧ-Фур’є мікроскопи. При цьому відстань між об’єктивом та предметним столиком досить велика і дозволяє безперешкодно розміщувати зразки завтовшки до 40 мм.

ІЧ-Фур’є технологія
Інтерферометр – “серце” ІЧ-Фур’є спектрометра. У LUMOS II використовується інтерферометр RockSolid, що не вимагає налаштування, стійкий до вібрацій, коливань температури та відхилення дзеркал.

• Висока стабільність роботи за рахунок використання інтерферометра з кутовими відбивачами, який не вимагає налаштування;
• Позолочення відбивачів підвищує ефективність;
• Всі деталі оптичної системи, прозорі в ІЧ-області, виготовлені з селеніду цинку, який є стійким до механічних впливів та вологості;
• Джерело ІЧ-випромінювання з тривалим терміном експлуатації (більше 5 років);
• Твердотільний лазер з тривалим терміном експлуатації (більше 10 років);
• Високочутливий MCT-детектор, DTGS-детектор постачаься додатково.

Вимірювання макрооб’єктів
Незважаючи на те, що LUMOS II є ІЧ-Фур’є мікроскопом, його можна використовувати і для дослідження великих зразків. Для цього необхідно підключити блок MACRO UNIT, який дозволяє використовувати всі модулі QuickSnapTM ІЧ-Фур’є спектрометра ALPHA II. Таким чином Ви можете досліджувати будь-які зразки: тверді, рідкі або газоподібні.

Застосування
LUMOS II однаково добре працює в режимі візуалізації та інфрачервоного аналізу, що надає широкі можливості для його застосування.
Практично у всіх галузях промисловості існує необхідність ідентифікації дрібних частинок чи забруднень на поверхні.

Інші застосування ІЧ-мікроскопу LUMOS II:

  • Аналіз дефектів в полімерах та пластиках;
  • Визначення домішок та забруднень;
  • Аналіз пакувальних матеріалів;
  • Перевірка негомогенності покриттів;
  • Аналіз часточок на будь-якій поверхні, фільтрі або матриці;
  • Аналіз дефектів електронних приладів;
  • Аналіз частинок та домішок на поверхні;
  • Дефекти на покриттях та ізоляційних шарах;
  • Аналіз дефектів у фармацевтичних продуктах;
  • Ідентифікування частинок;
  • Визначення домішок;
  • Гомогенність пігулок;
  • Аналіз дефектних автомобільних частин;
  • Ідентифікація забруднень;
  • Дефекти у пластикових деталях;
  • Аналіз резинових матеріалів;
  • Аналіз поверхні металів;
  • Аналіз дефектів у паперовій індустрії;
  • Ідентифікація та розділення наповнювачів.
ПЕРЕДЗВОНІТЬ МЕНІ
+
Передзвоніть мені!